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5G 器件H/LTOL(高低溫全生命周期可靠性) 測試系統
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所屬分類
功率容限測試系統
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產品描述
技術指標
5G通信要求更高功率、更高效率、多頻段、大帶寬、小體積、輕重量，以及高可靠性。隨著全頻譜接入、大規模天線、載波聚合等關鍵無線技術的應用，加上頻率提高和調制方式更加復雜，對射頻端的器件性能提出了更高的設計挑戰，射頻器件的可靠性測試顯得更加重要。
射頻元器件功率HTOL測試，作為一項嚴酷的應力測試，通過模擬老化和功率負荷加速激發故障來驗證器件運行壽命，已廣泛應用于陶瓷/介質濾波器，隔離器，衰減器、電阻等可靠性測試。 。
功能應用
- ● 5G 模擬前端器件，陶瓷/介質濾波器，隔離器，衰減器等耐久性測試。
- ● 半導體器件（如IC）高低溫耐久性測試。
- ● 無源天線大功率高低溫可靠性測試。
- ● 集總參數器件，電容、電阻、電感等耐久性測試。
功率容限的測試方案
圖像化用戶界面（GUI）
- ● 通過圖形用戶界面（GUI）控制，不需要額外開發應用軟件；
- ● 軟件自動關斷故障通道，亦可人為手動關斷選中通道，不影響其他通道測試；
- ● 可中途單獨查看每個通道測試曲線、測試數據；
- ● 在長達1000h的測試過程，無需人工干預，軟件自動記錄測試數據，包括功率、駐波、插損、溫度等。
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